能一口氣從-70℃飆到150℃的SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗設備長啥樣？
能一口氣從【 -70℃ 飆到 150℃ 】的SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱長啥樣？
一款SSD在正式進入市場前必然會經過多種測試，其中就有老化測試和高溫測試，這兩項測試對芯片的質量和可靠性要求非常嚴苛，畢竟事關數(shù)據(jù)存儲的安全，測試到位才能保證產品以優(yōu)質的性能進入市場。
但我們參觀了那么多固態(tài)生產工廠后，發(fā)現(xiàn)很多工廠這兩個測試環(huán)節(jié)的現(xiàn)狀是這樣的！
-老化測試和高溫測試單獨分開進行，測試總耗時較長；
-測試環(huán)境用設備模擬創(chuàng)造；
-一些嚴苛的條件，例如工控產品測試需要的嚴苛溫度、或者處于一定濕度和壓力下的測試環(huán)境，當前多數(shù)工廠的設備都無法滿足；
總的來說問題就是產品測試時間長，測試環(huán)境不夠全面，從而導致交貨期延長和產品返修率增加。那有沒有什么辦法可以一口氣解決這些問題呢？
1、設備性能
在定制化的SSD專用SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱內，老化測試、恒溫測試或者高低溫交叉測試可以同時進行；
測試溫度標準可達到工業(yè)級別，最高溫度達到150℃，最低達到負70℃，溫度調節(jié)程序自動化；
溫度變化過程中，還會形成水汽，可創(chuàng)造嚴苛的測試環(huán)境條件。
2、強大作用
被測產品被置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，會加速老化壽命試驗，整體縮短產品壽命試驗時間；
可檢測產品電子元器件的封裝的密封性和耐壓性，從而判斷產品的環(huán)境適應力和工作壓力適應力！
定制化的內箱構造，保證產品在試驗過程中溫度濕度壓力是均衡的！
最關鍵的是，整個設備電路整合設計，操作簡單，維護方便。
很多固態(tài)產品的生產企業(yè)對于測試這一個板塊非常重視也非常頭疼，一方面是因為測試時間長，另一方面是測試工作是產品良率和返修率的保證。這個時候一臺高效且靠譜的測試設備就顯得尤為重要了！
LabCompanion宏展儀器高性能SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗驗證解決方案
隨著科學技術的不斷創(chuàng)新，SSD固態(tài)硬盤技術也在日益更新，SSD固態(tài)硬盤行業(yè)的可靠性試驗的需求日益提高。針對SSD固態(tài)硬盤、半導體及電子元器件的高發(fā)熱、高負載的試驗需求，LabCompanion宏展儀器開發(fā)了SSD高性能高低溫（濕熱）試驗箱，既可以實現(xiàn)更快的溫度升降速率，又能對應容許最大發(fā)熱負荷高至4500W的高負載發(fā)熱可靠性試驗。
主要特征：
可實現(xiàn)更高性能
與普通溫濕箱相比，擁有更快的溫度升降速率：升溫速率：7℃/min，降溫速率：3~5℃/min。濕度范圍：20%～98RH。
對應高發(fā)熱 高負載試驗
容許最大發(fā)熱負荷高至4500W，適合SSD固態(tài)硬盤、半導體、車載零件相關電子元器件的高負載發(fā)熱可靠性試驗。
方便改造，功能拓展性強
結構上更容易進行改造，如上方可進行上下疊放改造；左右側可進行并柜改造。
更容易進行提高性能的相關改造。
平衡調溫調濕控制系統(tǒng)（BTHC），雙PID及水蒸氣分壓控制，技術成熟、精度極高。
產品綠色環(huán)保、省耗節(jié)能。
通過接口可進行網(wǎng)絡控制及數(shù)據(jù)采集（RS-485/GPIB/Web Lan/RS-232C）。
標配左右電纜孔（50mm），便于試樣通電連線、進行多項測量。
控制器采用彩色LCD觸摸屏，操作簡單方便
通過控制器可選擇定值和程序兩種控制適應不同應用。
程序控制可設置100個模式，每個模式設定99步驟。重復循環(huán)最大999次。
多種語言輕松切換（簡體中文、英語）、試驗數(shù)據(jù)U盤存儲。
可追加多種選購件，滿足客戶多樣需求。
可追加泄壓閥、煙霧傳感器、急停開關、報警輸出端子、三色燈等安全選購件。
標配風冷規(guī)格，方便產品的移動與安裝。
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產品名稱
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型號
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溫度范圍
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濕度控制
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濕度范圍
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內容積
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內尺寸(W×H×Dmm)
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外尺寸（WxHxDmm）
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SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱
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PL-408-SSD
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－40℃～＋180℃
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YES
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20%～98%rh
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400L
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600×850×800
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800×1753×2167
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SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱
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PL-1000-SSD
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－40℃～＋180℃
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YES
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20%～98%rh
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980L
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1000×1000×1000
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1200×1903×2400
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SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱
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PS-408-SSD
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－70℃～＋180℃
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YES
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20%～98%rh
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400L
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600×850×800
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800×1753×2167
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SSD固態(tài)硬盤高低溫老化試驗箱
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PS-1000-SSD
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－70℃～＋180℃
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YES
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20%～98%rh
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980L
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1000×1000×1000
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1200×1903×2400
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※1 溫度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規(guī)定，環(huán)境溫度＋23℃、相對濕度65±20%rh、額定電壓、無試樣時。環(huán)境溫度高于23℃時有時候達不到最低溫度。以GB/T5170.2-2008規(guī)則表示。
※2 箱內溫度是＋20℃。
※3 該升降溫速率為去掉總溫度區(qū)間的前后10%的升降溫速率的值。
