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    技術(shù)文章
    
        
    
        
    

            
    
    
        
        
    
            
    燒機試驗機(LED老化試驗設(shè)備)CK/BIO/BIR
    
        
    
        
    
            

    

    
	
		
    
			
				 
			
			
				
    
					
						
    
							
								燒機試驗機(LED老化試驗設(shè)備)CK/BIO/BIR-Type
							
						
    
						
    
							
								用于LED老化(溫度應(yīng)力)試驗...
    
     
							    		
						
    
						
    
							
							
						
    
					    
				
    
			    		
		
    
	    

    

    

    
	
		
    
			
				
			
		
    
		
    
			
				
    
					
    
						
							
    
								
									環(huán)境應(yīng)力篩選試驗
								
							
    
							
    
								
									
    
										篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。 
    
篩選試驗可以在元件、器件、連接器等產(chǎn)品或整機系統(tǒng)中進行，根據(jù)要求不同可以有不同的應(yīng)力篩選試驗，環(huán)境應(yīng)力篩選的主要試驗為：
									
    
								    		
							
    
							
    
								
									電應(yīng)力篩選：加電工作試驗、加電加負荷試驗 
    
溫度應(yīng)力篩選：高溫、低溫、高溫工作或低溫工作 
    
環(huán)境應(yīng)力篩選：溫度變化 
    
機械應(yīng)力篩選：沖擊或振動 
    
其他篩選：參數(shù)篩選、一致性篩選
    
篩選試驗也可分為普通篩選
    
參照標準： 
    
MIL-STD-2164-85 
    
GJB1032－90  “電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法” 
    
GJB451-90 
    
MIL-STD-721C-81 
    
MIL-STD-785B-80
								    		
								
									
    
										
											
    
												
													可靠性篩選試驗的特點是：
    
A．這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗.
    
B．該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平.但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性.即不能提高每個產(chǎn)品的壽命.
    
C．不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果.淘汰率高.有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴重缺陷. 但了有可能是篩選應(yīng)力強度太高.淘汰率低.有可能產(chǎn)品缺陷少.但也有可能是篩選應(yīng)力的強度和試驗時間不足造成的.
												    		
											
    
										    
									
    
								    		
							
    
							
    
								
									 技術(shù)參數(shù)
								
							
    
							
    
								
									
    
     CK-290+LED測試系統(tǒng)
    
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù).
								    		
								
									高精度微電腦無段式控制調(diào)溫系統(tǒng) 
    

    
以PID＋Fuzzy 方式控制,使系統(tǒng)之加減熱量達到低能耗、節(jié)能、減碳效果.制熱電子化智慧控制,故能長期穩(wěn)定的使用。
    
								    		
							
    
							
    
								
									 技術(shù)參數(shù)
								
							
    
							
    
								
									
    
     CK-179+LED測試系統(tǒng)
    
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù).
								    		
								
									溫度范圍：55℃～150℃ 。
    
點燈溫度范圍： 55℃~120℃。
    
升溫時間：20℃～150℃約50分鐘 (空載時)。
    
負載：HI POWER LED測試板60片(10顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~1000mA，電壓為5V，發(fā)熱量600W;LO POWER LED測試板20片 (20顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~200mA，電壓為5V，發(fā)熱量200W。
    
共80片LED測試板，負載材質(zhì)：LED×30%，電路板×20%，銅×50%。
    
								    		
							
    
							
    
								
									PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制
								
							
    
							
    
								
									產(chǎn)品特性
								
							
    
							
    
								
									
    
BIO
    
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù).
								    		
								
									可放10組模組板，輸出總數(shù)400 channels。
    
每組模組板對應(yīng)2組20channels輸出。
    
機箱型式：19"標準儀器箱，符合EIA RS-310-C 之規(guī)范。
    
機箱尺寸：483W*221.5H*460D mm，采5U高度設(shè)計，可直接裝于EIA 19"標準儀器架。
    
機箱材質(zhì)：采鋁合金制造，質(zhì)輕、美觀、耐用。
								    		
							
    
							
    
								
									PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制
								
							
    
							
    
								
									試驗規(guī)范
								
							
    
							
    
								
									GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》 
    
GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》 
    
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》 
    
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》 
    
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》 
    
GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》 
    
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》 
    
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗 
    
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
								    		
							
    
						    
					
    
				
    
			    		
		
    
	    

    
        
    
    
    

        
    
    
    

    

    



    
        
        
        
    
    
    
	
    
		 		
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